在工业制造过程中，常常需要在质量控制过程中对材料进行检查，以及对合金、金属材料进行分拣，手持式 X 射线荧光(XRF)分析仪是完成废料回收、基本 PMI(材料成分辨别)、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。2020 年 5 月 26 日，奥林巴斯发布了 Vanta Element-S 手持式 X 射线荧光(XRF)分析仪，除具备了 Vanta 系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好等特性外，其操作便捷性更是堪比智能手机，可选配的无线连通性能让用户在使用过程中感受到了智能制造的强大威力。

高效检测，精准识别

在对材料进行分拣的过程中，庞大的数据量以及杂乱的材料常常导致检测的开展十分缓慢。Vanta Element-S 分析仪配备有硅漂移探测器(SDD)，可对元素进行分析，并在几秒内对合金进行牌号辨别和分拣，能够快速有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量。完成对样品的检测之后，屏幕上会显示出清晰的牌号 ID，以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。同时，分析仪的 SDD 探测器可以区分类似 303 和 304 不锈钢、6061 和 1100 铝等相似的合金牌号，精准完成识别。

坚固耐用，操作便捷

鉴于金属检测、材料分拣等工作常常需要在较为恶劣的环境下开展，潮湿、灰尘会对仪器的性能产生较大影响。Vanta Element-S 分析仪通过了 IP54 评级标准，具备防尘和防潮特性，而且通过了从 1.2 米(4 英尺)高处坠落的测试(MIL-STD-810G)，不会因偶尔掉落或推挤而损坏，可在–10°C 到 45°C 的温度范围内无压力持续运行 24 小时。

为了方便进行野外作业，Vanta Element-S 分析仪配备了不锈钢面板和带有 Kapton(聚酰亚胺)网格背衬的 Prolene(聚丙烯纺织纤维)窗口。野外作业过程中需要更换窗口时，无需使用工具即可轻松揭下旧窗口，贴上新窗口。同时，分析仪体型小巧，仅重 1.32 公斤，方便携带，操作便携性堪比智能手机，大大提升了操作人员的工作效率。

优良连通性能助力工业 4.0 变革

Vanta Element-S 型号分析仪由奥林巴斯成熟的 Axon 技术驱动，具有与 Vanta 系列其他分析仪相同的高计数率和稳定性，可使用户迅速获得检测结果和投资回报。除具备了 Vanta 系列分析仪检测迅速、结果可靠、坚固耐用、连通性好等基本特性，可选配的无线连通性能使 Vanta Element-S 型号分析仪顺应了工业 4.0 的变革潮流，走向智能化。分析仪可通过可选配的无线连通性能直接与奥林巴斯科学云系统连接，进行无线数据共享，并能够访问便捷的多设备管理工具、奥林巴斯链接移动应用程序或用户的网络。同时，分析仪还提供了 1 个用于存储检测结果的 1 GB 容量的 Micro SD 卡，以及两个便于导出数据的 USB 端口，便于用户管理海量数据。

为了提高操作的灵活性，Vanta Element-S 分析仪可与多种配件相兼容，其中包括 Vanta 野外台座、土壤支架、探头护罩和机套。要了解有关 Vanta Element-S XRF 分析仪或者奥林巴斯其他工业解决方案的更详细信息，请访问官方网站：https://www.olympus-ims.com.cn/zh/

随着工业 4.0 时代的到来，智能制造成为全球制造业未来发展的方向。2020 年为我国《智能制造发展规划(2016-2020 年)》的收官之年，智能制造将进一步在工业领域得到广泛应用。奥林巴斯 Vanta Element-S 型号分析仪的发布在为用户带来优质体验的同时，也顺应了智能制造的变革潮流，推动了产业的转型升级，为未来的工业发展带来更多想象空间。